日本行動計量学会国際シンポジウム(2021/1/29)

WEB	http://www.ai.lab.uec.ac.jp/kakenhi/
テーマ	Advanced technologies for adaptive testing
日時	2021年1月29日（金） 13:00～15:00
場所	オンライン開催（Zoom利用）
プログラム	オーガナイザー: Wim J. van der Linden 13:00～13:20 Introduction to shadow-test approach to adaptive testing (Wim J. van der Linden) 13:20～13:40 TestDesign: An optimal test design approach to constructing fixed and adaptive tests in R (Seung Choi, Sangdon Lim & Wim J. van der Linden) 13:40～14:00 Online adaptive item calibration with polytomous items (Hao Ren, Seung Choi & Wim J. van der Linden) 14:00～14:20 Adaptive testing with complex test specifications (Seung Choi & Sangdon Lim) 14:20～14:40 A two-level adaptive test battery (Wim J. van der Linden & Qi Diao) 14:40～15:00 Discussion

行動計量シンポジウム